JW-BK132F 微介孔物理吸附分析仪-BET比表面-介孔分析测定-分子筛微孔分析
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BET比表面，BET比表面积仪，比表面测定仪，BET比表面及孔径分析仪，比表面积分析仪，介孔微孔孔径分析仪，孔径分布，孔隙率测定仪，孔隙率分析仪，真密度分析仪，压汞仪
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JW-BK132F 微介孔物理吸附分析仪
产品型号：JW-BK132F
品&&&&&&&&牌：JWGB/精微高博
所&&在&&地：北京
更新日期：
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环 宝 通：
所在地区：
&北京精微高博科学技术有限公司
&联&系&人：&&吕霞&
&手&&&&&&机：&&
&电&&&&&&话：&010-&
&邮&&&&&&箱：&&
&邮&&&&&&编：&100055&
&传&&&&&&真：&010-&
&联系时,请一定说明是从谷瀑网看到的,谢谢
&品牌：JWGB/精微高博 &加工定制：否 &型号：JW-BK132F &&测量范围：比表面积：0.0005(m2/g)--至无上 &显示方式：SSA test report &用途：用于企业，高校及科研单位，比表 &&测试精度：小于1% &孔径范围：0.35-500nm &&
微介孔物理吸附分析仪特性概述：
1. 自动化智能化，性能稳定，测试精度高，可替代国外仪器设备；
2. 相对于进口仪器，测试时间短，测试效率高；质优价廉；
3. 测试结果和测试报告与国际标准一致；
4. 测试数据可以导出，便于客户用来作图和发表学术论文；
5. 被评为&国产好仪器&，在高校、科研院所备受欢迎；
微介孔物理吸附分析仪分析模型：
●标配模型
--单点多点BET（Brunauer, Emmett, Teller）比表面积；
--外表面积（STSA)；
--Langmuir比表面积；
--等温吸脱附曲线；
--BJH(Barrett, Joyner, Halenda)介孔大孔孔容积、孔面积、孔径分布；
-- HK、SF微孔孔容积及孔径分布分析；
-- NLDFT非定域密度函数理论孔径分布分析；
-- t-plot法微孔分析；
--总孔容积、孔面积、平均孔径计算；
●可选模型
--真密度测试；
--气体吸附量、吸附热测试；
--气体吸附动力学测定；
-- MP法、DR（Dubinin- Radushkevich )法、as-plot法微孔分析；
-- 平均粒径估算；
微介孔物理吸附分析仪特性描述：
●智能化分析，测试效率高
独立样品分析站，互不干扰，此外，可原位进行脱气处理，***高脱气温度达400℃；样品比表面、介孔及微孔一体化测试，自由空间自动校正，系统温度与饱和蒸汽压实时监测，全自动化智能化控制，测试效率极高，测试功能与技术指标全面达到国外同类仪器水平；
●真空系统及腔体
高真空压力测试技术，平衡压力自动判断和智能控制技术，超低压压力的热蒸腾校正技术等，使等温吸脱附曲线在相对压力10-6-10-8范围的测试精度达到国际先进水平；多通路并联抽真空系统，腔体模块化、集装式设计，无泄漏，真空抽速可进行快慢自动可控调节，有效防止粉体材料飞溅至仪器内部，测试系统可在短时间内达到***高真空度；
原装进口&机械真空泵+二级涡轮分子泵&联合使用，极限真空度高达10-6Pa，完全满足小于0.7nm超微孔的精确分析；
经过原装进口INFICON氦质谱检漏仪检验，检漏率可至10-13Pa*m3/s。
全进口SMC低温电磁阀控制，彻底消除了电磁阀本体发热可能引入的测量误差，有效提高仪器的测试精度。不建议选择使用气动阀，气动阀气体消耗大，仍需同电磁阀联合使用才可正常开启，阀门开关反应速率较慢，较大程度会影响仪器的测试精准度。
●温度测量
采用优质温度传感器，对外气室（歧管）腔体内部温度进行实时、准确、精确的测定，并在采用气体状态方程PV=nRT进行气体吸（脱）附量的计算时与以实时修正，完全避免了温度可能引起的测量误差，大大提高了仪器的测试精度。
●自由空间测定
可用氦-不用氦进行自由空间测定。用氦气自动测定自由空间完全符合国际标准理论计算；也可不用氦气进行测定，与国际先进仪器水平一致。
●氮气的饱和蒸汽压P0测试
每个分析站设有独立的P0管，由单独的压力传感器控制，样品测试全程P0实时检测，并实时参与计算。也可采用大气压输入法准确测定，同国际技术接轨。
●液氮面控制综合技术
采用恒温夹套、填充棒、防挥发盖、软件补偿等液氮面控制综合系统及软件补偿技术，同时配备特制的大容量高真空玻璃内胆杜瓦瓶及防液氮挥发系统，在长时间微孔测试过程中，确保样品室非均匀温度场相对恒定，确保微孔分析数据的准确性；配备了独创的半导体恒温水浴，适合于CO2微孔测试的要求，使微孔测试下限真正达到0.35nm，进入国际先进水平；&&
●防抽飞专有系统
内置式防抽飞单元，及&阶梯式&防飞溅程序，有效防止超细微粉抽飞至仪器内部管路，效果等同于国外的&过滤筛&技术。
●脱气系统
同位+外置式异位真空脱气标准化设计，共多达7个脱气站。加热脱气过程全自动控制，可程序升温。
●数据采集模块
采用国际先进品牌高精度、高集成度数据采集模块，以太网接口，误差小，抗干扰能力强，零故障。
比表面及孔隙度分析仪软件特点：
●以太网数据采集
以太网数据采集，控制软件兼容Windows 8/7系统，一台电脑、一套软件可同时控制多台仪器，可远程控制。
●引导式操作软件
人性化设计软件，用户可根据操作提示信息，进行相关的软件设置，完全避免了人为因素可能导致的问题。
●软件控制界面更直观、简捷、易操作
&--实时显示外气室压力、温度、测试时间等信息，人性化设计；
&--测试全程压力采集数据全自动实时监视及图形显示，更直观更真实；
●测试结果数据自动保存
--测试结果数据自动保存；
--可离线打开、预览已保存的源文件；
--多文档控制软件，测试过程中可同时打开多个已保存的源文件进行查阅；
●高精度研究级比表面及微孔分析仪全自动测试，可7*24小时无人值守、无间断操作控制，非正常断电自动保护功能 ；
●高精度研究级比表面及微孔分析仪十多种物理模型分析准确，计算分析方法准确、先进，实验结论表征正确，非定域密度函数NLDFT孔径分析模型与国际先进接轨， 国内技术唯一。
微介孔物理吸附分析仪测试数据：
微孔孔容孔径分布图
&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&& 等温曲线图
微介孔物理吸附分析仪主要技术参数：
微介孔物理吸附分析仪测试原理：静态容量法，低温氮吸附（或其他吸附气体）；
微介孔物理吸附分析仪测试精度：&& 1.0%（比表面）；&0.02nm（***可几孔径）；
微介孔物理吸附分析仪测试气体：氮、氧、氢、氩、氪、二氧化碳、甲烷等 ；
微介孔物理吸附分析仪测试范围：0.0005(m2/g)--至无上限(比表面积)；2nm-500nm(介孔及大孔分析)；0.35nm-2nm(微孔分析)；孔体积0.0001cm3/g-至无上限；
微介孔物理吸附分析仪测试效率：比表面积平均每样10min；介孔、大孔分析平均每样1.5-2小时；微孔分析平均每样10-16小时；
微介孔物理吸附分析仪分析站: 1-4个完全独立分析站，其中至少有一个微孔分析站，可同时进行测试；
微介孔物理吸附分析仪杜瓦瓶：每个分析站原配单独的3L真空玻璃内胆杜瓦瓶，共3个；
微介孔物理吸附分析仪升降系统：每个分析站原位设有独立的升降系统，共3套，互不干扰；
微介孔物理吸附分析仪P0管：3个分析站原位设有独立的P0管，共3支，由单独的进口压力传感器控制，可实时检测饱和蒸汽压P0值；也可应用大气压输入法准确测定P0值，同国际技术接轨；
微介孔物理吸附分析仪脱气系统：3个样品分析站标配同位、原位脱气站共3个：3个独立加热包，3套独立温控系统，均可程序升温控制，程序升温设置阶数多达10阶；同时配置外置式异位4站真空脱气预处理系统；
微介孔物理吸附分析仪脱气温度：室温&400℃，精度&1℃；
微介孔物理吸附分析仪压力传感：样品分析站采用原装进口电容式薄膜多压力传感器， 3支1000 Torr 、10Torr 、1Torr或0.1Torr多级联用， 精度&0.15％（读值）；
微介孔物理吸附分析仪真空泵：采用&外置式原装进口双级旋片式机械真空泵（自动防返油） +德国原装进口二级涡轮分子泵&，极限真空度高达10-6Pa；&&&&&&&&&&&&&&&&
微介孔物理吸附分析仪氮分压范围： P/Po 准确可控范围达10-8-0.998 ，可测1000点以上；
微介孔物理吸附分析仪数据控制方法：平衡压力智能控制法，吸脱附孔径分布分析分六段优化设置，可设压力间隔范围0.1-133KPa，可灵活设置，全自动控制及调节；
仪器规格:尺寸，长70cm&宽70cm&高85cm；重量，约80 Kg；
电源要求：交流220V&20V，50/60HZ，***大功率300W；电流5A ；
环境温度：室温20 - 25℃；
微介孔物理吸附分析仪主要应用领域：
吸附剂比表面，如活性炭比表面及微孔、活性炭比表面、活性炭BET比表面、分子筛BET比表面、分子筛比表面、分子筛BET比表面测试、分子筛比表面分析、活性氧化铝比表面及微孔分析、活性氧化铝比表面、活性氧化铝BET比表面、活性氧化铝比表面分析等，广泛用于环保领域；
催化剂比表面，比如石化、化工、医药、食品、农业、精细化工等领域；
颜填料比表面，如碳酸钙比表面、碳酸钙BET比表面、碳酸钙BET比表面测试、氧化锌比表面、氧化锌BET比表面、氧化锌BET比表面测试、氧化硅比表面、氧化硅BET比表面、氧化硅比表面测试、矿物粉比表面、矿物粉BET比表面等，广泛用于涂料、塑料工业；
陶瓷材料原料比表面积，氧化铝比表面、氧化铝BET比表面、氧化锆比表面、氧化锆BET比表面、氧化钇比表面、氧化钇BET比表面、氮化硅比表面、氮化硅BET比表面、碳化硅比表面、碳化硅Bet比表面等；
橡塑材料的补强剂比表面，如炭黑比表面、炭黑STSA比表面、白炭黑比表面、白炭黑STSA比表面、纳米碳酸钙比表面等；
新型电池材料比表面，如磷酸铁锂比表面、钴酸锂比表面、锰酸锂比表面、石墨比表面、三元材料比表面等电极材料；
发光稀土粉末材料比表面；三基色荧光粉比表面等；
磁性粉末材料比表面，如四氧化三铁比表面、铁氧体比表面等；
纳米粉体材料比表面，如纳米陶瓷材料比表面、纳米金属材料比表面（如银粉比表面、铁粉比表面、铜粉比表面、钨粉比表面、镍粉比表面等）；
其他，如膨润土比表面，活性白土比表面，超细纤维比表面、多孔织物比表面、复合材料比表面、沉积物比表面、悬浮物比表面等。
本公司专业生产经营比表面，比表面仪、比表面及孔径分布测定仪，微孔分布测定仪，比表面分析仪，比表面测试，全自动真密度仪，气体密度计，高压吸附仪等物性测试仪器设备，质量保证，欢迎来电咨询洽谈。
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BET数据测试数据处理
测试的是介孔材料，需要作孔径分布图，一般的纵坐标都是dV/dD或者dV/dlogD,横坐标都是D，测试中心给出的数据是图这样的。
1.第一列是 R 半径，横坐标是要把这个数据×2吗？第一列数据是17.，乘以2 也不是2—50 nm范围，介孔半径2-50nm，难道测试成微孔了？
2.第四列dV（r），第六列dV（logr）是什么意思，就是dV/dr吗？
Instrument:& & QuadraSorb Station 3
Void Vol.:& &&&He Mode.Cell: 9mm large bulbRun modeStandard& && && &&&Instrument version:5.06
X(HC4AC0DISXS~7RTDPMDVP.png
下图就是测试中心给出的数据。我就是有些不懂什么意思才问的！
测试中心给的就是这些数据&&不可能少一列吧&&一般的纵坐标都是dV/dD或者dV/dlogD,横坐标都是D&&第四列dV（r）会是dV/dr 吗
喂,朋友,你直接用测试中心给你的excel画图就行,别搞那么复杂啊
测试中心给出的就只有6个TXT 文本文档数据，所有的图需要自己画的
确实有平均孔径和孔体积，但是目前需要的是 做出孔径分布图
是别人帮测试的，可能没说，数据给的是这样，应该是测试中心默认的给出形式，会不会是仪器版本不同，现在的仪器都是直径D
我告诉他们测试的是介孔，介孔直径应该是2-50nm，即使给的半径那也是1-25nm，但是数据上面17.044开始的 到989.245结束，数据范围不对 还是单位问题
看数据应该是康塔设备，半径单位默认为埃，除十换成纳米就好
有可能是你处理时选择的参数不对，而且处理的方法也会对你的孔分布有影响。半径单位显示不出来，或许真的是A。我们处理之后，直径大小单位是nm，是能显示出来的
对头，看来是这样子的，单位为埃 除十 测试范围就是2—100，非常感谢！
那需要作图dV/dlogD——D&&应该怎么处理数据呢，D 已经解决，倒数第二列搞不懂了
康塔设备出的数据默认单位埃，默认孔径为半径，用他们的软件可以设置成纳米和直径，出来的数据就是相对于直径（dV/dlogD）的数据，你可以让测试的那边帮你设置下重新导数据给你，这个用他们的软件转很简单的，当然理论上也可以通过自己计算进行转换。你愿意的话可以把原始数据发我，我给你转换下。
那还需要到那边重新修改，输出格式这可能是测试中心默认的，只是跟一般的不同，设备原因吧& &康塔设备
已经私信我的QQ给你了
不一定的!还是问问测试中心吧
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你可能喜欢测活性炭的比表面 用BET测出来C值是负的 为什么_百度知道
测活性炭的比表面 用BET测出来C值是负的 为什么
提问者采纳
BET比表面数值也会趋向于Langmuir比表面，这是因为吸附物质(气体)分子的大小和形状在非常狭窄的微孔中与BET假设严重偏离在微孔材料BET比表面的测试中，C值为负.05~0，BET比表面测定的相对误差比较大；如果是介孔材料BET比表面测试中，这时在0，当达到0，C值一定不再是负值，说明测试的准确性有问题，吸附能力很差.05~0，随着降低线性范围，在正常的0，C值为负是不应当的，直线的线性度不断提高.35范围中已不存在直线关系.35范围中做直线，BET的相关假设也并不完全适合他们，对于一些比表面特别小的材料，这时也容易出现C值为负的现象，C值只是参考而已，必须对线性范围给与修正, BET表面积明显小于样品总的几何表面积.9999以上时，这时可以不必深追
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