如何测T1-T2间的爬电距离和电气间隙?

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印制板中爬电距离和电气间隙检测的探讨
本文介绍了印制电路板的漏电距离和电气间隙能力验证试验,详细阐述了被测印制电路板的基本参数和印制电路板中轨迹线的漏电距离及电气间隙的检测方法和路径选择,并对典型的问题进行总结。
  3 试验方法与测量  3.1 基础测量  对于本样品测量印制的厚度T,比较合理的测量工具是游标卡尺。测量印制电路板中轨迹线T2的宽度时,比较适合的测量工具是带刻度的显微镜或视频显微镜。测量和比对结果的具体数值见表1.  根据CNAS-GL02《能力验证结果的统计处理和能力评价指南》基础测量数据采用稳健统计,根据Z比分数进行判定,由测量数据计算得出印制电路板的厚度和印制电路板中轨迹线T2的宽度的︱Z︱&2,结果为满意。(点击查看大图)  3.2 印制电路板中各轨迹线间的电气间隙和漏电距离的测量  3.2.1 电气间隙和漏电距离的测量  印制电路板中轨迹线T1 与 T2、T3 与 T4、T1与 T4、T1与R1之间的电气间隙是这些轨迹线部分之间在空间上的最短距离,且该距离是最短的直线距离。而漏电距离则是指轨迹线T1 与 T2、T3 与 T4、T1与 T4、T1与R1之间沿绝缘材料表面测量的最短路径距离。影响漏电距离的路径的因素主要与污染等级有关,在本次能力验证试验中给出的模拟试验条件是设定样品污染等级为2(正常情况)。对于微观环境的污染等级GB/T 8中给出了明确的解释。为了计算漏电距离和电气间隙,微观环境的污染等级规定有以下4个等级:污染等级1:无污染或仅有干燥的、非导电性的污染,该污染没有任何影响;污染等级2:一般仅有非导电性污染,然而必须预期到凝露会偶然发生短暂的导电性污染;污染等级3:有导电性污染或由于预期的凝露使干燥的非导电性污染变为导电性污染;污染等级4:造成持久的导电性污染,例如由于导电尘埃或雨或其他潮湿条件所引起的污染。由于以上轨迹线之间沿绝缘材料表面上可能存在槽或缝,这样会导致漏电距离和电气间隙的路径并不完全一样,有时甚至是截然不同的两条路径。槽或缝的宽度如果小于一个定值X时,测量漏电距离时槽或缝的深度是可以忽略不计的。但这个定值X是由污染等级决定的。所以说污染等级会直接影响漏电距离的路径。槽宽度X基本上适用于以污染等级为函数的所有情况见表2.  如果有关的电气间隙小于3 mm,则尺寸X的最小值可减小至该电气间隙的1/3.在确定沟槽时还应特别注意,不是任意两个邻边都能看成是凹槽并用X值来连线&短接&.对于凹槽和不规则表面的漏电距离的测量原则,在CTL决议的DSH No:590号中已经明确指出:当凹槽的底部夹角小于80&时,槽的底部才可以用X值来连线&短接&.下面来对这四对轨迹线的电气间隙和漏电距离的路径和测量作一一分析。  3.2.1.1 T1与T2之间的电气间隙和漏电距离  T1与T2之间的电气间隙即T1与T2间视线最短处距离,直接通过读数显微镜测量T1与T2间最短的二点间距离。T1与T2之间的漏电距离为由T1沿三角形边至角,然后由角至T2的垂直距离,但角底部需分别短路掉1 mm.此处短路掉1 mm是依据GB《音频、视频及类似电子设备安全要求》  中13.2条款中附录图E3的V型沟槽要求,条件是所要测量的通路包含有一个内角小于80&和宽度大于X mm的V型沟槽。  规则即是漏电距离的通路就是沿沟槽轮廓线伸展的通路,但沟槽底部要短路掉X mm,又因为试验条件是设定样品污染等级为2,所以X值取1.0 mm.  如图4所示,图中虚线为电气间隙路径,实线为漏电距离路径。
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