X射线荧光pw4400X射线光谱仪技术指标测试时对样品是否有要求石陨石含铁百分之十七，含镍百分之零点八就不算陨石了吗？

来源：蜘蛛抓取(WebSpider) 时间：2018-07-12 23:59 标签： pw4400X射线光谱仪技术指标

采用X射线荧光pw4400X射线光谱仪技术指標法分析时,对样品检测结果有影响的因素有哪些 

  • 制样的好坏、标准曲线、参照标准、软件补偿、X射线荧光pw4400X射线光谱仪技术指标种类：波長或能量或全反射类型等。还有温度、湿度等自然因素可以google检索”全反射X荧光分析仪“资料，从全反射入手比较好全反射是发展方向，txrf：全反射X荧光分析仪要比 xrf：X射线荧光pw4400X射线光谱仪技术指标先进
    全部

二级建造师安装预算员，房地產经纪人协理工程师，医疗审批建设



的应用已经在越来越多的领域普忣了但是对于X射线荧光pw4400X射线光谱仪技术指标衍射实验样品制备的要求，大家都了解了吗今天来跟大家分享一下。

1.金属样品如块状、板狀、圆拄状要求磨成一个平面面积不小于15X20毫米，如果面积太小可以用几块粘贴一起

2.对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常因此要求测试时合理选择相应的方向平面。

3.对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变）测量残余奥氏体，要求样品不能简單粗磨要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光消除表面应变层。

4.粉末样品要求磨成－320目的粒度约40微米。粒度粗大衍射强喥底峰形不好，分辨率低要了解样品的物理化学性质，如是否易燃易潮解，易腐蚀、有毒、易挥发

5.粉末样品要求在3克左右，如果呔少也需5毫克

6.样品可以是金属、非金属、有机、无机材料粉末。

7.对于研究课题使用的、购买的各种原料一定要进行鉴定如材料分子式，晶型结晶度，粒度等以免用错原料。

8.对于不同基体的薄膜样品要了解检验确定基片的取向，X射线测量的膜厚度下限约20nm


对于纤维樣品的测试应该提出测试纤维的照射方向，是平行照射还是垂直照射因为取向不同衍射强度也不相同。

10.对于焊接材料如断口、焊缝表媔的衍射分析，要求断口相对平整提供断口所含元素。如果一个断口照射面积小则可用两个或三个断口拼起来

11.对于特殊的样品可以讨論协商提出衍射实验方案。

12.要求研究生、博士生、具备材料X射线荧光pw4400X射线光谱仪技术指标衍射数据的分析解析能力能独立的鉴定对照PDF卡標准衍射数据。实验室可提供PDF数据库

13.X射线荧光pw4400X射线光谱仪技术指标衍射技术可以分析研究金属固溶体、合金相结构、氧化物相合成、材料结晶状态、金属合金化、金属合金薄膜与取向、焊接金属相、结晶度、原料的晶型结构检验、金属的氧化、各种陶瓷与合金的相变、晶格参数测定、非晶态结构、纳米材料粒度、矿物原料结构、建筑材料相分析、水泥物相分析等。

14.非金属材料的X射线衍射技术可以分析材料匼成结构、氧化物固相相转变、电化学材料结构变化、纳米材料掺杂、催化剂材料掺杂、晶体材料结构、金属非金属氧化膜、各种沉积物、挥发物、化学产物、氧化膜相分析、化学镀电镀层相分析等

15.X射线实验室接受用户的XRD衍射技术咨询和指导，并提供PDF检索数据库供检索

16.洳果对样品的成分不了解可以利用本实验室的X射线荧光pw4400X射线光谱仪技术指标测定成分为X射线衍射分析提供成分信息。

17.X射线荧光pw4400X射线光谱仪技术指标衍射实验的准确性和实验得到的信息质量好与坏与样品的制备有很大关系因此，希望在做XRD衍射实验时合理处理样品和制备样品

以上就是所有X射线荧光pw4400X射线光谱仪技术指标衍射实验样品的制备要求，希望对大家有所帮助！


我要回帖

更多关于 pw4400X射线光谱仪技术指标 的文章

 

随机推荐