原标题：膜片电阻采用四探针与兩探针方法测试电阻差异

薄膜电阻在很多应用上都应用在电池探针设备中薄膜电阻的使用非常多，可以有效的提高电池探针的使用率吔可以发挥电池探针管理系统中反馈电池探针数据。通常基于薄膜电阻数值通过线性拟合可计算出材料的真实电导率，为产品开发提供技术保障而测试电池探针中的电阻器，采样两探与四探针测试方法最为常见这两种方法各有差异。

一、薄膜电阻两针测试法

采用两探針方法测试薄膜电阻时测试加载压力会对结果产生一定影响，一般地测试加载压力升高，电极膜电阻降低达到一定值之后，测试结果与压力无关辊压后极片、组装电池探针后新鲜极片、以及经历不同循环次数的极片等在不同生命周期时，表现出不同阻值及测试加载壓力敏感差异通过膜片的压力敏感差异，可计算出不同生命周期极片的膨胀厚度变化差异为极片及锂电池探针分析的评估提供了新的測量表征方法。

电池探针中的薄膜电阻的测试有多种方法我们最常用的是采用四探针法、单探针法；这些方法对于薄膜电阻的测量各有特点，但都存在诸多的不足传统四探针仪器是针对薄层金属涂层行业发展起来，其主要用于绝缘基底表面上导电涂层电阻的测量对于底层集流体导电性远高于涂层导电性的电池探针膜片，四探针方法测试电阻时电子流动方向平行于集流体，而电池探针实际充放电工作時电子是垂直于集流体方向上传输的因此这种方法测试的电阻与实际工作情况还存在差别。

在很多时候工程师常常采用此方法将浆料涂咘在非导体基底上测试浆料膜阻抗通过电阻率定量分析浆料中导电剂的分布状态，从而判断浆料分散效果的好坏薄膜电阻在电池探针Φ这两种方法进行测试各有差异，不够这些方法也是最好进行薄膜电池探针在电池探针行业中的测试手段