硅片检测制造过程检测方案

为了提供最高重复性的晶格尺寸檢测结果Chroma在7202上头使用了独特 的光学设计来强化晶格特征。而当晶格尺寸可以被量化之后分类好的硅片检测 就可以套用于不同的生产工藝,拿来在不同的电池片生产线进行生产藉以 提高电池片生产时候的平均转换效率。

7202同时也可以检测孔洞瑕疵而孔洞瑕疵正是造成光伏模组失效的 μ-crack或者严重local shunting的原因。

  • 可整合到任何硅片检测分选机上
  • 可调整式的演算法可供检测5"、6"以及单晶、多晶、准单晶等各种硅片检测
  • 哆样化介面选择可与不同设备或者MES系统连线
  • 检测晶格尺寸的特殊光源设计

我要回帖

更多关于 硅片检测 的文章

 

随机推荐